聚亮光学新品推出 偏光显微熔点仪 X-4P 可外接CCD进行拍照分析
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品牌/型号
测维/X-4P
类型
显微熔点仪
型号
X-4P
品牌
测维
电源
220(V\HZ)
加工定制
熔点测量范围
20~320(℃)℃
测量重复性
±1℃
专利产品
载波片和毛细管

聚亮光学新品推出 偏光显微熔点仪 X-4P 可外接CCD进行拍照分析

上海聚亮光学仪器有限公司

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